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Aluminio y metalurgía
Diferentes tipos de materia prima están incluídos en la producción metálica. Variaciones de la composición e impurezas influyen directamente la calidad de las aleaciones metálicas finales. Minerales, materias primas así como accesorios de producción como ánodos de carbono, materiales refractorios, carbono y caliza tienen que analizarse de antemano para evitar conflictos en el proceso. El control de calidad rápido de la aleación metálica final es la segunda tarea analítica importante. Sistemas de análisis de rayos X son la solución óptima para esta tarea.
Debido a la diversidad de materiales a analizar se necesita determinar un gran número de elementos diferentes en concentraciones variadas. Esto significa distintas técnicas de preparación de muestra. La <lik 52>espectrometría de rayos X de dispersión por longitud de onda (WDXRF) es el método analítico rápido para el control de concentraciones elementales en aleaciones metálicas. Este método es tan flexible que permite realizar diferentes tareas analíticas además de los trabajos de rutina.
Análisis elemental en la producción metalúrgica por la espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF)
La industria del hierro produce hierro fundido así como varios tipos de productos como aleaciones ligeras y fuertes, acero inoxidable y acero de herramientas. En el control de proceso, el análisis de hierro y acero preciso y rápido es importante, pero el proceso saca también provecho de la determinación fiable y rápida de la composición elemental de las materias primas (minerales, carbono, caliza) y de materiales importantes como escorias, aleaciones férricas, refractorios y escorias de hierro. En la industria de los metales no ferrosos, diferentes tipos de elementos están en el centro de interés del control de proceso y calidad preciso, asegurando la composición correcta de las aleaciones basadas en plomo, cobalto, níquel o cobre. Finalmente, en la producción de metales preciosos o de cobre de alto grado de pureza para más alta conductividad, el análisis de trazas llega a ser la tarea principal del control de proceso.
La espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda (WDXRF) es generalmente aceptada como método ideal para procesos de producción altamente automatizados y enteramente integrados. Suministra concentraciones elementales precisas y fiables de elementos mayores, minores y trazas. El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda secuencial S4 PIONEER (WDXRF) cumple con las demandas analíticas en la producción metalúrgica, proporcionando alto rendimiendo analítico fiable combinado con flexibilidad, velocidad y estabilidad.
El único espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda "Plug ‘n Analyze" S8 TIGER 1K (WDXRF) así como el espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivo de energía (EDXRF) S2 RANGER completan la gama de soluciones de espectrometría de BRUKER AXS, correspondiendo a los requerimientos de aplicaciones más allá del control de proceso rutinario.
Sistemas de análisis de rayos X para el control de proceso en la producción de aluminio (XRF & XRD)
En el sector de la metalurgia y particularmente en la producción de aluminio, el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) y la difracción de rayos X (XRD) tienen un papel importante en el control de proceso y calidad desde hace algún tiempo.
Los espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda S4 PIONEER y S8 TIGER 1K (WDRXF) determinan la composición elemental con más alta precisión y reproducibilidad y un mínimo de preparación de muestra de manera no destructiva. El sistema de difracción de rayos X D4 ENDEAVOR (XRD) realiza el análisis de baño de aluminio cerca de la producción. El D4 ENDEAVOR proporciona el más alto flujo de muestra combinado con precisión, reproducibilidad y tiempo de servicio debido al uso de tecnología innovadora. Esto permite ejecutar la electrólisis de aluminio en óptimas condiciones, asegura la calidad de producto y le ayuda a Vd. a ahorrar dinero.
El entero proceso análitico puede automatizarse, solo los portamuestras grandes del S4 o D4 tienen que cargarse con muestras. Además, el método y el proceso analítico pueden modificarse sencillamente para corresponder a los requerimientos locales. Bruker AXS ofrece estas soluciones específicas realizadas por sus expertos como servicio completo.
Más información
D4 ENDEAVOR - La solución de difracción de rayos X para un alto flujo de muestras
DIFFRACplus TOPAS – New Generation Profile Refinement Software
Q6 COLUMBUS – OES Analizador de metales con alto rendimiento
Q8 MAGELLAN – Espectrómetro de emisión óptica High-End para el analísis de los metales
Q8 CORONADO – Sistema automático de análisis concebido para fundiciones y a cierias



