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- 4th International SAXS/GISAXS Workshop (PDF)
Sep 09-11, Leoben, Austria - Navigated Atomic Force Microscopy - N8 NEOS
Sep 15, Free Webinar - 17th Bruker Users‘ Group Meetings 2010 - Single Crystal X-ray Diffraction
Sep 19-22, Karlsruhe, Germany - Good Diffraction Practice III - Powder XRD Instrumentation and Data Quality
Sep 30, Free Webinar - COM2010 - Conference of Metallurgists
Oct 03-06, Vancouver, British Columbia, Canada
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Bedienung
- N8 NEOS
Konstruiert um eine intuitive Bedienung zu ermöglichen, funktioniert die N8 AFM-Serie ähnlich einem Lichtmikroskop und wird über eine klar strukturierte Benutzeroberfläche gesteuert. Dabei ist es egal, ob Sie eine routinemäßige Oberflächenkontrolle durchführen wollen oder ob Sie speziellere Anwendungen haben, eine große Auswahl an geeigneten Messmodi steht zur Verfügung.